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全自動(dòng)影像測量?jì)xFiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技術(shù)標準ASTM及B568，DIN60987， ISO3497的X一射線(xiàn)熒光分析法來(lái)進(jìn)行測量， 下但可以測量金屬層厚度及金屬之間的比重， 還可以進(jìn)行金屬物料分析。

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復合型影像測量?jì)x是采用全新數學(xué)計算方法來(lái)進(jìn)行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡(jiǎn)化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣可以測量。

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